對于傳統半導體器件，主要通過執行IV、CV表征，實現快速、精準的全方位測量和分析功能。隨著電子電力的發展，功率器件的使用越來越多，SiC、GaN等寬禁帶半導體被廣泛應用于射頻，超高壓等領域，為適應特高壓輸電，電動汽車充電樁等超高壓應用，寬禁帶材料一直是研究方向的熱點。 東方中科作為專業的測試平臺，將帶您從測試的角度，去剖析并解決半導體從設計到生產過程中帶來的一系列新問題。

光電器件分為發光器件和光探測器兩大類。發光器件是把電信號變成光信號的器件，光纖通信用的光源在光纖通信中占有重要的地位，近紅外光譜儀實現VCSEL陣列的激光雷達進行3D人臉識別已大規模應用于手機行業，需要測試光譜、光功率等多項關鍵指標；光探測器是把光信號變成電信號的器件，光電信號具有典型的小信號特性，測試需要進行高速、高精度的電流采集能力。

半導體集成電路，已應用于各類電子產品的方方面面。智能手機、平板電腦、手表等消費電子產品承載多媒體的平臺，具有移動處理數據能力，而各種新興的數字接口技術的發展，是移動多媒體變革的基礎。同時，云計算、IOT和人工智能等下一代創新將帶來很多新挑戰，將重點放在提高數據速率、避免通道損失和符號間干擾、全自動采集和分析以及同時調試物理層和協議層。 針對高速串行芯片設計，東方中科提供完整的發送端測試解決方案，配備高帶寬實時示波器、高速誤碼率分析儀、各種探頭、一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標準覆蓋各類常用標準。