光電測試解決方案

背景概述

隨著電信網絡、數據中心、AI的蓬勃發展，光電通訊中光電子器件與光模塊測試顯得尤為重要。我們提供PXI數據采集,數據記錄,以及數據處理的解決方案，協助您加速完成光電測試。

應用場景

• 各類激光器：VCSEL，FP，DFB，DBR等晶圓，芯片，Bar 條等

• 調制類激光器：DML 和 EML 等直調或者外部調制類激光器芯片和器件

• 硅光類芯片：MZM或者MRR結構的硅光芯片調制器

• 光電探測器：PD，PIN，APD，硅、鍺、鍺硅等探測器等

• 光模塊

硬件配置

1. NI源測量單元：提供多板卡同時采樣及同步測量，擁有卓越的準確度和速度

2. NI PXI機箱：提供不同的通道數量及機箱槽數的選擇（2至18槽），更好的運用測量能力

3. 兼容多平臺光學儀器如Santec、YOKOGAWA等

示范配置

1. PXIe-1095：18槽機箱，高達 2 GB/s, 3 MXI-Express 控制器,58 W冷卻功率

2. PXIe-4139：單通道源測量單元 (SMU)，用于激光二極管和監控光電探測器,擁有 40W 輸出功率,±60V,3A DC, 10A Pulse, 100 fA 精度

3. PXIe-4144：4通道源測量單元 (SMU)，用于硅光, EAM 和外部光電探測器， 擁有 ±6 V, ±500 mA, 150 pA 精度

4. PXIe-4163：24通道源測量單元 (SMU)，用于硅光, EAM 和外部光電探測器， 擁有 ±24 V, ±50 mA, 10 pA 精度高密度源表

軟件配置

1. NI 光電器件測試軟件包：提供用LabVIEW和C#編寫的工具、API和范例來測試光電元器件，例如校準外部光電探測器(ePD)、采集光-電流-電壓(LIV)曲線以及計算激光二極管(LD)的特性。

2. 靈活配置軟面版：支持工程師在InstrumentStudio中輕松控制和配置儀器、運行測量以及開發和調試測試序列。

3. 自動化測試序列：TestStand現成測試管理軟件可用于驗證和生產測試，從而無需在內部進行耗時的序列生成器開發和維護，在同一序列中可集成LabVIEW, C/C++,Python和.Net多種語言。

4. APIs:簡易的視覺呈現便于理解和測試，實現測試自動化 (LabVIEW, C, C#)

方案優勢

• PXI平臺：PXI 平臺可以大大簡化儀器同步，并且利用可直接復用的API自動完成測試，減少測試時間。

• 高精度源表：NI 高精度源表擁有穩定的的輸出以及測量能力，確保測試的穩定性和一致性，對比臺表有著更高的采樣率，更小的單次脈沖寬度。

• 可擴展性和高通道密度：設備僅需更小的占地面積，更高的通道密度便于搭建并行測試系統。同樣44通道，NI的源表體積對比堆疊臺表，體積僅為其的1/6,并留有16槽拓展空間。

• 自動化：可基于TestStand集成源表、Optical Power Meter、Laser等不同平臺儀器，完成自動化測試序列，加速光電器件測試驗證。