光耦繼電器測(cè)試實(shí)驗(yàn)

光耦繼電器是用半導(dǎo)體器件代替?zhèn)鹘y(tǒng)電接點(diǎn)作為切換裝置的具有繼電器特性的無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)器件，廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)外圍接口裝置、數(shù)控機(jī)械、遙控系統(tǒng)、工業(yè)自動(dòng)化器械、精密儀表等產(chǎn)品中。在進(jìn)行光耦繼電器測(cè)試實(shí)驗(yàn)時(shí)， 過(guò)流是造成其內(nèi)部輸出可控硅永久性損壞的主要原因。許多負(fù)載在接通瞬間會(huì)產(chǎn)生很大的浪涌電流， 因此在實(shí)驗(yàn)時(shí)保證一定的電流余量是極其重要的。

測(cè)試項(xiàng)目

點(diǎn)亮測(cè)試、老化測(cè)試、供電測(cè)試

推薦測(cè)試儀器

• IT-M3900C系列 雙向可編程直流電源

• IT8400系列 高性能直流電子負(fù)載